
當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體/IC測(cè)試解決方案 > IC測(cè)試分類機(jī) > Chroma 3240 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)

簡(jiǎn)要描述:Chroma 3240 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)是一款新型的測(cè)試機(jī)可供多組PCB level平行測(cè)試的大量生產(chǎn)機(jī)具。3240可配合多數(shù)不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、μBGA、PGA 及CSP封裝。測(cè)試機(jī)采用取放的技術(shù),可從JEDEC夾盤來拾取IC,移動(dòng)到測(cè)試位置,然后將測(cè)試后產(chǎn)品放置于適當(dāng)之Tray 盤。測(cè)試機(jī)可提供90度旋轉(zhuǎn)的需求,以符合各種IC方向性,使各個(gè)IC接腳同一方向。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,道路/軌道/船舶 |
Chroma 3240 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)是一款新型的測(cè)試機(jī)可供多組PCB level平行測(cè)試的大量生產(chǎn)機(jī)具。3240可配合多數(shù)不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、μBGA、PGA 及CSP封裝。測(cè)試機(jī)采用取放的技術(shù),可從JEDEC夾盤來拾取IC,移動(dòng)到測(cè)試位置,然后將測(cè)試后產(chǎn)品放置于適當(dāng)之Tray 盤。測(cè)試機(jī)可提供90度旋轉(zhuǎn)的需求,以符合各種IC方向性,使各個(gè)IC接腳同一方向。
Chroma 3240以并排平行方式,進(jìn)行測(cè)試。在高溫下具有自動(dòng)溫度冷卻(ATC)功能,其范圍從攝氏50度到125 度可測(cè)試1至4個(gè)測(cè)試座。

Chroma 3240 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)的特色:
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