X射線衍射儀技術(shù)是通過對樣品進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的一種儀器，是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法，X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。

　　X射線衍射儀的主要功能：

　　X射線衍射分析方法可實現(xiàn)無損的物相定性和定量分析，而且利用衍射峰位，衍射峰強度，衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征，如：點陣常數(shù)的精密測定，晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計算，宏觀殘余應(yīng)力測定，結(jié)晶度計算等。

　　應(yīng)用范圍：

　　X射線衍射分析方法是材料微觀結(jié)構(gòu)表征常規(guī)和有效的方法之一，它的適用性很廣，通常用于測量粉末、單晶或多晶體等塊體材料，并擁有檢測快速、操作簡單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點，能為物理、化學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)、冶金以及各種工程技術(shù)科學(xué)的研究和教學(xué)提供專業(yè)服務(wù)。